Liema mikroskopji elettroniċi mediċi jużaw siġilli tal-gomma?
Is-siġilli tal-gomma jistgħu jintużaw fit-tipi li ġejjin ta 'mikroskopji elettroniċi mediċi:
Mikroskopija Elettronika ta' Trażmissjoni (TEM)
Post tal-kamra tal-kampjun: Il-kamra tal-kampjun jeħtieġ li żżomm ambjent ta 'vakwu għoli biex tiżgura li r-raġġ tal-elettroni jista' jgħaddi mill-kampjun mingħajr xkiel mingħajr ma jiġi mfixkel minn molekuli tal-gass. Is-siġilli tal-gomma jistgħu jintużaw fil-junction tal-bieb jew l-għatu tal-kamra tal-kampjun mal-istruttura prinċipali biex jiżguraw siġill issikkat u jipprevjenu l-arja ta 'barra milli tidħol fil-kamra tal-kampjun. Pereżempju, meta kampjun jiddaħħal jew jitneħħa, is-siġill tal-lastku jista 'joqgħod sewwa madwar l-interface bejn il-bieb u l-kamra tal-kampjun meta l-bieb tal-kamra tal-kampjun ikun magħluq, u jżomm l-istat tal-vakwu tal-kamra tal-kampjun.
Il-konnessjoni bejn il-kanun tal-elettroni u l-kanna tal-lenti: Il-kanun tal-lenti huwa komponent ewlieni fil-ġenerazzjoni tar-raġġ tal-elettroni, u r-raġġ tal-elettroni emess jeħtieġ li jidħol b'mod preċiż fil-kanna tal-lenti għall-iffukar u l-immaġini sussegwenti. Fil-pożizzjoni tal-konnessjoni bejn il-kanna tal-elettroni u l-kanna tal-lenti, jista 'jiġi ssettjat siġill tal-gomma biex jipprevjeni trab jew impuritajiet esterni milli jidħlu fil-kanna tal-lenti u jaffettwaw il-kwalità tar-raġġ tal-elettroni, min-naħa l-oħra, jgħin ukoll biex jinżamm il- l-istabbiltà tal-pressjoni ta 'l-arja ġewwa l-korp tal-lenti kollu u tiżgura t-tħaddim normali tal-mikroskopju elettroniku.
Mikroskopija Elettronika tal-Iskanjar (SEM)
Partijiet relatati mal-kamra tal-vakwu: Mikroskopji elettroniċi tal-iskanjar jeħtieġ ukoll li jaħdmu f'ambjent vakwu, u siġilli tal-gomma jistgħu jintużaw bejn l-interfaces, bibien, jew partijiet li jistgħu jinfetħu tal-kamra tal-vakwu u l-istruttura prinċipali. Pereżempju, meta l-bieb ta 'kamra tal-vakwu jeħtieġ li jinfetaħ waqt is-sostituzzjoni tal-kampjun jew il-manutenzjoni ta' rutina, is-siġilli tal-gomma jistgħu jiżguraw l-issikkar tal-kamra meta l-bieb jingħalaq sabiex l-istat tal-vakwu jkun jista 'jiġi restawrat malajr, tnaqqas il-ħin u l-enerġija konsum ta 'vacuuming.
Interface tad-ditekter: Id-ditekter huwa komponent importanti użat biex jirċievi sinjali elettroniċi riflessi jew imxerrda mill-wiċċ tal-kampjun. Is-siġilli tal-lastku jistgħu jintużaw fl-interface tal-konnessjoni bejn id-ditekter u l-korp tal-mikroskopju, li jistgħu mhux biss jipprevjenu sinjali esterni milli jinterferixxu mat-tħaddim normali tad-ditekter iżda wkoll jiżguraw l-issikkar tal-konnessjoni biex jevitaw li jidħlu trab jew impuritajiet oħra u li jaffettwaw is-sensittività u l-eżattezza tad-ditekter.
Mikroskopija konfokali
Post tal-apparat tal-aġġustament tal-passaġġ ottiku: L-apparat tal-aġġustament tal-passaġġ ottiku ta 'mikroskopju konfokali ħafna drabi jeħtieġ aġġustament preċiż biex tinkiseb immaġni 3D ċara. Is-siġilli tal-lastku jistgħu jintużaw f'xi partijiet aġġustabbli, bħall-binarju li jiċċaqlaq tal-lenti jew il-konnessjoni tal-parti li ddur mal-korp tal-mikroskopju, biex titnaqqas il-frizzjoni mekkanika u l-ilbies filwaqt li jipprevjenu t-trab milli jidħol fis-sistema tal-mogħdija ottika u jaffettwa l-kwalità tal-immaġni.
Konnessjonijiet tad-djar tal-istrumenti: Sabiex jiġu protetti l-ottiki u l-elettronika ġewwa, id-djar tal-mikroskopju konfokali jeħtieġ li jkun issiġillat ermetikament. Fil-partijiet tat-twaħħil jew tal-ftuħ u tal-għeluq tal-qoxra, is-siġill tal-gomma jista 'jkollu r-rwol ta' siġillar u buffering, jipprevjeni t-trab u l-umdità milli jidħlu fl-istrument, u jnaqqas ukoll l-impatt tal-vibrazzjoni esterna fuq l-istrument.